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工业/仪器

Applications

半导体加工

集成电路测试

通过将高功率激光束聚焦到电路中产生局部电流的IC上,可以帮助对复杂的集成电路进行失效分析

对应产品: BAL-808-CDL, BAL-980-CDL, BAL-1064-CDL, RWL-808-BFW02

 

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