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INDUSTRIE

Applications

Halbleiterfertigung

IC-Prüfung

Durch die Konzentration des optischen Strahls von Hochleistungslasern auf einen IC ist die Analyse von Defekten in komplexen integrierten Schaltkreisen möglich. Durch den Strahl werden lokale Ströme in der Schaltungsanordnung induziert.

Produkte: Single Frequente Laser Dioden